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Aspects fondamentaux de la microscopie électronique en transmission

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut de chimie et matériaux Paris-Est - UMR 7182

RESPONSABLE

Jean-Philippe COUZINIE

Maître de conférences

UMR 7182

LIEU

THIAIS (94)

ORGANISATION

5 jours
De 4 à 16 stagiaires
TD et démonstrations en sous-groupes

COÛT PÉDAGOGIQUE

1600 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

17091 : du lundi 09/10/2017 au vendredi 13/10/2017

Janvier Février Mars Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct.
17091
Nov. Déc.

OBJECTIFS

- Acquérir des concepts de base en microscopie électronique en transmission (interactions
électrons-matière, principes de fonctionnement de l'appareil, techniques de base et applications les
plus courantes... )
- Aborder les conditions et les possibilités d'utilisation des différentes techniques

PUBLIC

Chercheurs, ingénieurs, étudiants en thèse dans le domaine des sciences des matériaux

PRÉREQUIS

Connaissances de physique de base (niveau master) : optique, diffraction, interactions électron-matière, notions de cristallographie

PROGRAMME

- Interactions électron-matière élastiques :
. les outils nécessaires : structure de la matière et cristallographie...
. la diffusion et la diffraction électroniques
- Optique et fonctionnement du microscope
- Principes et quelques applications de l'imagerie :
. en contraste de diffraction
. en contraste de phase (haute-résolution)
. en mode balayage (STEM)
- Interactions inélastiques et informations chimiques :
. par spectroscopie de rayons X (EDX)
. par spectroscopie de pertes d'énergie des électrons (EELS)
- Introduction à la préparation d'échantillons

Les cours seront accompagnés de TD et démonstrations (50 % du temps) sur les appareillages de l'ICMPE.
Il est proposé aux stagiaires d'apporter leur propre échantillon à des fins pédagogiques, sous réserve de l'accord préalable du responsable scientifique et pédagogique du stage.

EQUIPEMENTS

Tecnai F20, JEOL 2000 EX, AKASHI 0028, salle de préparation d'échantillons (amincissement ionique et électrolytique, ultra-microtomie)
Voir le site de la plateforme de microscopie électronique de l'ICMPE

INTERVENANTS

J.-Ph. Couzinié (maître de conférences), S. Lartigue Korinek (chargée de recherches),
E. Leroy et J. Bourgon (ingénieurs) de l'ICMPE

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