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Microanalyse des solides par sonde ionique : SIMS

RESPONSABLE

Etienne DELOULE

Directeur de recherche

UMR 7358

LIEU

VANDŒUVRE-LES-NANCY (54)

ORGANISATION

4 jours
De 3 à 6 stagiaires
TP en sous-groupes de 3 stagiaires avec 1 intervenant par sous-groupe

COÛT PÉDAGOGIQUE

2050 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

17200 : du lundi 02/10/2017 au jeudi 05/10/2017

Janvier Février Mars Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct.
17200
Nov. Déc.

OBJECTIFS

- Acquérir les connaissances théoriques et pratiques nécessaires à l'utilisation d'un SIMS et à l'interprétation des résultats
- Etre capable d'optimiser la méthodologie grâce à l'étude des paramètres physiques et instrumentaux

PUBLICS

- Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs désirant avoir des connaissances approfondies dans le domaine de la caractérisation des matériaux solides par SIMS
- Métallurgistes, biologistes, géologues et chimistes travaillant sur des matériaux tant métallurgiques que céramiques ou composites

PRÉREQUIS

Une connaissance de la structure de la matière est nécessaire pour la compréhension du stage.

PROGRAMME

Cours (8 h)
La microanalyse par spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS) : présentation des différents types de données produites (imagerie chimique, spectres de masse, dosage élémentaire, profils en profondeur, mesure isotopique)

Travaux pratiques (20 h)
La partie pratique mettra en œuvre les principes évoqués, à partir d'expérimentations sur de nombreux cas concrets de : imagerie chimique, analyse élémentaire quantitative, profils en profondeur, analyse isotopique.
- Evaluation des besoins et expertise du problème d'analyse
- Type d'analyse (échantillon et choix des conditions expérimentales, cas de l'utilisation du canon à électrons)
- Dosage des éléments en traces
- Profils en profondeur
- Rapports isotopiques
- Imagerie, numérisation et traitement des images
- Préparation des échantillons et artefacts

Il est proposé aux stagiaires d'apporter leur propre échantillon à des fins pédagogiques, sous réserve de l'accord préalable du responsable scientifique et pédagogique du stage.

EQUIPEMENT

Sondes ioniques CAMECA IMS 7f et IMS 1280 HR

INTERVENANTS

E. Deloule (chercheur), N. Bouden (technicien), B. Boyer, J. Villeuneuve et D. Mangin, (ingénieurs)

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