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Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux

RESPONSABLES

Geneviève POURROY

Directrice de recherche

UMR 7504

Jacques FAERBER

Ingénieur de recherche

UMR 7504

LIEU

STRASBOURG (67)

ORGANISATION

2 jours ; de 5 à 9 stagiaires

COÛT PÉDAGOGIQUE

1000 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires ; attestation de formation

DATE DU STAGE

17271 : Nous consulter

Janvier Février Mars Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov. Déc.

OBJECTIFS

- Connaître les principes de la microscopie électronique à balayage en science des matériaux
- Comprendre la formation de l'image en MEB et les paramétrages de base
- Savoir préparer et observer des matériaux simples
- Savoir interpréter les images en fonction du type d'échantillon et des paramètres d'observation retenus

PUBLIC

Chercheurs, ingénieurs et techniciens amenés à utiliser le MEB ou exploiter des résultats de MEB en science des matériaux. Afin d'adapter le programme aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable ICI sera à renvoyer avant le début de la formation.

PRÉREQUIS

Connaissances de base en science des matériaux (niveau Bac + 2 minimum)

PROGRAMME

Cours (5 h) : principes de fonctionnement du MEB
- Source d'électrons, optique électronique, images par balayage
- Aperçu sur la technologie du vide
- Interactions électron-matière, électrons rétrodiffusés et secondaires
- Détection des différents signaux et types d'image associées
- Choix des conditions expérimentales et du type d'appareil en fonction des informations recherchées

Travaux pratiques (9 h) en sous-groupes de 3 stagiaires maximum avec un intervenant par sous-groupe
- Préparations et observations d'échantillons modèles : métal, céramique, polymère, composite, sous forme massive, brute ou polie, de poudre et en couche mince
- Travaux pratiques sur l'un ou l'autre appareil choisi en fonction du type d'échantillon et des informations recherchées
- Introduction à la microanalyse X par EDS (NB : bien que cette technique soit présentée dans cette formation, un stage du même catalogue est spécifiquement dédié à la microanalyse EDS : " Microanalyse X par spectrométrie à sélection d'énergie (EDS-X) ", Réf. 17075, ce catalogue.)

EQUIPEMENT

Tescan VEGA II (W, basse résolution, Low Vacuum) ; JEOL 6700F (HR-FEG, EDS) ; Zeiss GeminiSEM 500 (UHR-FEG, EDS, Low Vac) ; Zeiss SUPRA 40 (HR-FEG, EBL)

INTERVENANTS

A. Carvalho, T. Dintzer, J. Faerber, C. Leuvrey (ingénieurs), T. Romero (assistant ingénieur) et G. Pourroy (chercheuse)

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