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Caractérisation des matériaux nanostructurés par la diffusion des rayons X, des suspensions colloïdales aux couches minces et interfaces

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut des molécules et matériaux du Mans - UMR 6283

RESPONSABLE

Guillaume BROTONS

Maître de conférences

UMR 6283

LIEU

LE MANS (72)

ORGANISATION

3,5 jours, début du stage le lundi à 14 h
De 2 à 6 stagiaires
TP en binômes avec un intervenant par binôme

COÛT PÉDAGOGIQUE

2000 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

17348 : du lundi 15/05/2017 au jeudi 18/05/2017

Janvier Février Mars Avril
Mai
17348
Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov. Déc.

OBJECTIFS

- Acquérir ou approfondir ses connaissances théoriques et pratiques sur la diffusion des rayons X aux petits angles pour sonder des films minces (X-ray reflectrometry, GISAXS) et l'organisation de matériaux nanostructurés (SAXS)
- Savoir réaliser puis caractériser des échantillons modèles pour exploiter la complémentarité des techniques disponibles en laboratoire (couche mince métallique ; film mince de polymère ; solution de nanoparticules hybrides en solution et organisées après dépôt)
- Connaître les principes des techniques connexes aux grands instruments (X et neutrons) et au laboratoire (diffusion de la lumière)

PUBLICS

Chercheurs, ingénieurs, techniciens
Afin d'adapter le programme aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable ICI sera à renvoyer avant le début du stage.

PRÉREQUIS

Niveau Bac + 3 en physique / chimie ou niveau DUT mesures physiques ou expérience en laboratoire avec connaissance des techniques classiques de diffraction des rayons X ou de la lumière (notions de cristallographie, structure de la matière, organisation nanométrique... )

PROGRAMME

Cours interactifs (6 h)
- Interaction des rayonnements avec la matière
- Diffusion en fonction de l'organisation des matériaux nano et méso-structurés
- Choix de la technique, stratégies de mesure et instrumentation pratique
Travaux pratiques sur instruments et par type d'échantillon (16 h)

Quatre séances autour d'échantillons modèles réalisés par les stagiaires :
. une couche mince métallique évaporée sous vide (Chrome / Or sur silicium)
. un film mince de polymère sur verre (déposé par enduction à la tournette "spin-coating")
. un film hybride mésostructuré sur verre
. études des précurseurs en suspension dans leur solvant
Pour chaque séance, réalisation de l'échantillon au laboratoire et mise en forme pour la mesure
Présentation générale de l'instrument et réglages de calibrage. Mesure de l'échantillon, traitement des données spécifique à la technique et analyse via les logiciels gratuits de la communauté d'utilisateurs

EQUIPEMENT

2 Diffractomètre Empyrean (PANalytical, modèles 2015) équipés pour la réflectivité des rayons X et la diffraction rasante en réflexion et transmission ; réflectomètre X'Pert (Philips sur tube scellé) ; banc de diffusion centrale des rayons X (Rigaku sur anode tournante et optique confocale)

INTERVENANTS

G. Brotons (maître de conférences), A. Gibaud et F. Goutenoire (professeurs)

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