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Aspects fondamentaux de la microscopie électronique en transmission

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut de chimie et matériaux Paris-Est

- UMR 7182
RESPONSABLE

Jean-Philippe COUZINIE

Maître de conférences

UMR 7182

LIEU

THIAIS (94)

ORGANISATION

5 jours
De 4 à 16 stagiaires
TD et démonstrations en sous-groupes

COÛT PÉDAGOGIQUE

1800 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

19151 : du lundi 25/11/2019 au vendredi 29/11/2019

Janvier Février Mars Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov.
19151
Déc.
OBJECTIFS
-

Acquérir des concepts de base en microscopie électronique en transmission (interactions


électrons-matière, principes de fonctionnement de l'appareil, techniques de base et applications les
plus courantes...)
-

Aborder les conditions et les possibilités d'utilisation des différentes techniques

PUBLIC
Chercheurs, ingénieurs, étudiants en thèse dans le domaine des sciences des matériaux
PRÉREQUIS
Connaissances de physique de base (niveau master) : optique, diffraction, interactions électrons-matière, notions de cristallographie
PROGRAMME
- Interactions électrons-matière élastiques :
. les outils nécessaires : structure de la matière et cristallographie...
. la diffusion et la diffraction électroniques
- Optique et fonctionnement du microscope
- Principes et quelques applications de l'imagerie :
. en contraste de diffraction
. en contraste de phase (haute-résolution)
. en mode balayage (STEM)
- Interactions inélastiques et informations chimiques :
. par spectroscopie de rayons X (EDX)
. par spectroscopie de perte d'énergie des électrons (EELS)
- Introduction à la préparation d'échantillons

Les cours seront accompagnés de TD et démonstrations (50 % du temps) sur les appareillages de l'ICMPE.

Il est proposé aux stagiaires d'apporter leur propre échantillon à des fins pédagogiques, sous réserve de l'accord préalable du responsable scientifique et pédagogique du stage.
EQUIPEMENTS
Tecnai F20, JEOL 2000 EX, AKASHI 0028, salle de préparation d'échantillons (amincissement ionique et électrolytique, ultra-microtomie)
Voir le site de la plateforme de microscopie électronique de l'ICMPE pour une description détaillée des équipements
INTERVENANTS
J.-Ph. Couzinié (maître de conférences), S. Lartigue Korinek (chargée de recherches),
E. Leroy et J. Bourgon (ingénieurs) de l'ICMPE
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