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Microanalyse X par spectrométrie à sélection d'énergie (EDS-X)

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut Néel

- UPR 2940
RESPONSABLE

Sébastien PAIRIS

Ingénieur de recherche

UPR 2940

LIEU

GRENOBLE (38)

ORGANISATION

2,5 jours
De 2 à 4 stagiaires

Si inscription simultanée aux sessions 20103 et 20014 :
1800 € au lieu de 2050 € pour les deux stages

COÛT PÉDAGOGIQUE

1500 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATES DU STAGE

20103 : du mardi 31/03/2020 au jeudi 02/04/2020

20285 : du mardi 03/11/2020 au jeudi 05/11/2020

Janvier Février Mars
20103
Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov.
20285
Déc.
OBJECTIFS
-

Acquérir les connaissances de base théoriques et pratiques nécessaires à l'utilisation d'un système de microanalyse X fonctionnant en dispersion d'énergie (EDS)


-

Savoir interpréter les résultats et connaître les limites de la méthode


-

Être capable de choisir des paramètres d'analyse pertinents et de mettre en œuvre les études de caractérisation

PUBLICS
Techniciens supérieurs ou ingénieurs débutant dans la microanalyse EDS-X

Prérequis
: aucun
PROGRAMME
Cours (8 h)
- Etude des phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière
- Microanalyse EDS-X : analyse qualitative et quantitative (méthodes de calcul et de correction) : limites de la méthode d'analyse
- Etudes de cas
Travaux dirigés (2 h)
- Simulations de spectres et de trajectoires électroniques par la méthode de Monte-Carlo
- Traitements de données issues de cas réels afin que l'utilisateur puisse rechercher les conditions optimales de mesure
Travaux pratiques (9,5 h) : MEB (10 % du temps) et microanalyse EDS (90 % du temps)
- Microscopie électronique à balayage (canon, détecteurs, mise en œuvre...)
- Fonctionnement du microscope électronique à balayage
- Imagerie en électrons secondaires et rétrodiffusés
- Recherche et caractérisation de phases : appareillage, traitement des spectres, analyse qualitative
- Analyses semi-quantitatives
- Analyses quantitatives (avec témoins)
- Analyses quantitatives avec témoins des éléments légers (O...)
- Cartographies élémentaires et spectrales
- Cartographies élémentaires et spectrales : traitement des données

Les aspects liés à la microanalyse en dispersion de longueur d'ondes (WDS) seront abordés dans une journée complémentaire optionnelle (stage Réf. 20104 ce catalogue).
EQUIPEMENT
Microscope électronique à balayage ZEISS Ultra+ à canon à effet de champ doté de systèmes de microanalyse X fonctionnant en dispersion d'énergie (EDS-Bruker) et d'électrons rétrodiffusés (EBSD-Oxford)
INTERVENANTS
S. Pairis, S. Kodjikian (ingénieurs) et C. Darie (professeure)
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