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Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux

RESPONSABLES

Cédric LEUVREY

Ingénieur d'études

UMR 7504

Thierry DINTZER

Ingénieur de recherche

UMR 7515

LIEU

STRASBOURG (67)

ORGANISATION

2 jours
De 4 à 9 stagiaires
TP en sous-groupes de 3 stagiaires maximum avec 1 intervenant par sous-groupe

COÛT PÉDAGOGIQUE

1000 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

20192 : du mercredi 13/05/2020 au vendredi 15/05/2020

Janvier Février Mars Avril
Mai
20192
Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov. Déc.
OBJECTIFS
-

Connaître les principes de la microscopie électronique à balayage en science des matériaux


-

Comprendre la formation de l'image en MEB et les paramétrages de base


-

Savoir choisir les détecteurs adaptés pour former une image


-

Savoir préparer et observer des matériaux simples


-

Savoir interpréter les images en fonction du type d'échantillon et des paramètres d'observation retenus


-

Savoir compléter l'interprétation des images en utilisant la microanalyse X

PUBLICS
Chercheurs, ingénieurs et techniciens amenés à utiliser le MEB ou interpréter des images de MEB pour la science des matériaux

Afin d'adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable ICI devra être complété et renvoyé au moment de l'inscription.
PRÉREQUIS
Connaissances de base en science des matériaux (niveau Bac + 2 minimum)
PROGRAMME
Cours (6 h) : principes de fonctionnement du MEB
- Source d'électrons, optique électronique, images par balayage
- Aperçu sur la technologie du vide
- Interactions électrons-matière, électrons rétrodiffusés et secondaires
- Détection des différents signaux et types d'images associées
- Choix des conditions expérimentales et du type d'appareil en fonction des informations recherchées

Travaux pratiques (8 h)
- Préparation et observation d'échantillons modèles : métal, céramique, polymère, composite, sous forme massive, brute ou polie, de poudre et en couche mince
- Travaux pratiques sur l'un ou l'autre des appareils choisis en fonction du type d'échantillon et des informations recherchées
- Notions de microanalyse X par EDS
EQUIPEMENT
Tescan VEGA II (W, basse résolution, Low Vacuum) ; JEOL 6700F (HR-FEG, EDS) ; Zeiss GeminiSEM 500 (UHR-FEG, EDS, Low Vac)
INTERVENANTS
T. Dintzer, J. Faerber, C. Leuvrey et T. Romero (ingénieurs)
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