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EBSD et diffraction des rayons X - Corrélation entre la texture cristalline et la microstructure des matériaux

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut de chimie moléculaire et des matériaux d'Orsay - UMR 8182

RESPONSABLE

Thierry BAUDIN

Directeur de recherche

UMR 8182

LIEU

ORSAY (91)

ORGANISATION

4 jours
De 5 à 10 stagiaires

COÛT PÉDAGOGIQUE

1900 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE

17195 : du mardi 21/03/2017 au vendredi 24/03/2017

Janvier Février Mars
17195
Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov. Déc.

OBJECTIF

- Acquérir des connaissances théoriques et pratiques sur l'analyse des textures et des microstructures des matériaux grâce, en particulier, à l'EBSD (Electron BackScatter Diffraction) et aux cartographies d'orientations, méthode consistant à imager les orientations d'une microstructure, chaque grain étant automatiquement défini par sa géométrie et son orientation cristallographique

PUBLIC

Techniciens supérieurs, ingénieurs et chercheurs

PRÉREQUIS

Notions de cristallographie

PROGRAMME

Cours (40 % du temps)
- Description de la texture cristallographique :
. rappels de cristallographie : indices de Miller, projection stéréographique...
. description et représentation des orientations cristallographiques : figures de pôles, fonction de distribution des orientations cristallines (FDOC)
. caractérisation des textures par diffraction des rayons X
- Analyse des textures globales :
. calcul de la FDOC : méthode harmonique, méthodes discrètes...
- Analyse des orientations individuelles :
. caractérisation des orientations individuelles par diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)
. calcul de la FDOC : méthode harmonique...
- Analyse des relations texture-microstructure :
. caractérisation des relations texture-microstructure : cartographies d'orientations (EBSD), nature des joints de grains...
. potentialités et limites de l'EBSD

Travaux dirigés et pratiques (60 % du temps)

- Mesure de textures par diffraction des rayons X
- Mesure de cartographies d'orientations par EBSD
- Exercices de cristallographie
- Interprétation des figures de pôles et de la FDOC
- Utilisation des logiciels Labotex et OIM
- Etudes de cas

INTERVENANTS

T. Baudin, S. Lartigue (chercheurs), F. Brisset (ingénieur), A.L. Helbert, D. Solas (maîtres de conférences) et C. Esling (professeur)

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