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Microanalyse élémentaire des solides par microsonde électronique

RESPONSABLE

Michel FIALIN

Ingénieur de recherche

UMR 7154

LIEU

PARIS (75)

ORGANISATION

4 jours
De 3 à 6 stagiaires

COÛT PÉDAGOGIQUE

1890 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires ; attestation de formation

DATE DU STAGE

18096 : Nous consulter

Janvier Février Mars Avril
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov. Déc.

OBJECTIFS

- Acquérir les connaissances théoriques et pratiques nécessaires à l'utilisation d'une microsonde électronique et à une interprétation correcte des résultats
- Acquérir les connaissances théoriques et pratiques de l'analyse X quantitative

PUBLICS

- Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs désirant avoir des connaissances approfondies dans le domaine de la caractérisation des matériaux solides par microsonde électronique
- Métallurgistes, géologues et chimistes (travaillant sur des matériaux tant métallurgiques que céramiques ou composites)

PRÉREQUIS

Connaissances de base sur la structure de la matière

PROGRAMME

Cours (12 h)
- Etudier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et les échantillons conducteurs ou isolants
- La microanalyse élémentaire par spectrométrie X à dispersion de longueur d'onde : appareillage, traitement des spectres, analyse qualitative, analyse quantitative
Travaux pratiques et dirigés (16 h)
La partie pratique mettra en œuvre les principes évoqués à partir d'expérimentations sur de nombreux cas concrets : imagerie, analyse X qualitative et quantitative. Mettre en place et optimiser la méthodologie de l'analyse des éléments légers par spectrométrie de longueur d'onde (WDS)
- Expertise du problème d'analyse, caractéristique de l'échantillon et choix des conditions expérimentales
- Aspects spécifiques de la microanalyse des éléments légers (O, C, B, N) et des raies de faibles énergies
- Pratique de logiciels d'analyse quantitative
- Numérisation et traitement des images X
- Préparation des échantillons et artefacts
- Table ronde entre les participants et les intervenants sur les acquis de la formation et les problèmatiques professionnelles éventuelles des stagiaires

EQUIPEMENT

Microsonde CAMECA SxFive équipée de cinq spectromètres à dispersion de longueur d'onde (WDS) et d'un spectromètre à dispersion d'énergie (EDS)

INTERVENANTS

M. Fialin et N. Rividi (ingénieurs)

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