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Microanalyse X par spectrométrie à sélection d'énergie (EDS-X)

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut Néel - UPR 2940

RESPONSABLE

Sébastien PAIRIS

Ingénieur de recherche

UPR 2940

LIEU

GRENOBLE (38)

ORGANISATION

2,5 jours
De 2 à 4 stagiaires

Si inscription simultanée aux sessions 19253 et 19085 :
1700 € au lieu de 1850 € pour les deux stages

COÛT PÉDAGOGIQUE

1300 Euros

A L'ISSUE DE LA FORMATION

Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATES DU STAGE

19084 : du mardi 02/04/2019 au jeudi 04/04/2019

19253 : du mardi 19/11/2019 au jeudi 21/11/2019

Janvier Février Mars Avril
19084
Mai Juin Juillet Août
Sept. Oct. Nov.
19253
Déc.

OBJECTIFS

- Acquérir les connaissances de base théoriques et pratiques nécessaires à l'utilisation d'un système de microanalyse X fonctionnant en dispersion d'énergie (EDS)
- Savoir interpréter les résultats et connaître les limites de la méthode
- Etre capable de choisir des paramètres d'analyse pertinents et de mettre en œuvre les études de caractérisation

PUBLICS

Techniciens supérieurs ou ingénieurs débutant dans la microanalyse EDS-X

Prérequis : aucun

PROGRAMME

Cours (8 h)
- Etude des phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière
- Microanalyse EDS-X : analyse qualitative et quantitative (méthodes de calcul et de correction) : limites de la méthode d'analyse
- Etudes de cas
Travaux dirigés (2 h)
- Simulations de spectres et de trajectoires électroniques par la méthode de Monte-Carlo
- Traitements de données issues de cas réels afin que l'utilisateur puisse rechercher les conditions optimales de mesure
Travaux pratiques (9,5 h) : MEB (10 % du temps) et microanalyse EDS (90 % du temps)
- Microscopie électronique à balayage (canon, détecteurs, mise en œuvre...)
- Fonctionnement du microscope électronique à balayage
- Imagerie en électrons secondaires et rétrodiffusés
- Recherche et caractérisation de phases : appareillage, traitement des spectres, analyse qualitative
- Analyses semi-quantitatives
- Analyses quantitatives (avec témoins)
- Analyses quantitatives avec témoins des éléments légers (O...)
- Cartographies élémentaires et spectrales
- Cartographies élémentaires et spectrales : traitement des données

Les aspects liés à la microanalyse en dispersion de longueur d'ondes (WDS) seront abordés dans une journée complémentaire optionnelle (stage Réf. 19085, ce catalogue).

EQUIPEMENT

Microscope électronique à balayage ZEISS Ultra+ à canon à effet de champ doté de systèmes de microanalyse X fonctionnant en dispersion d'énergie (EDS-Bruker) et d'électrons rétrodiffusés (EBSD-Oxford)

INTERVENANTS

S. Pairis (ingénieur) et C. Darie (professeure)

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