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- Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux
Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux Présentiel
Dernière mise à jour : 10/01/2026
- Unité de recherche
- Description
- Objectifs de la formation
- Public visé
- Prérequis
- Modalités pédagogiques
- Moyens et supports pédagogiques
- Modalités d'évaluation et de suivi
- Formateurs
- Modalités tarifaires spécifiques
- Informations sur l'accessibilité
- Inscription
Description
Cours : principes de fonctionnement du MEB
- Source d'électrons, optique électronique, images par balayage
- Aperçu sur la technologie du vide
- Interactions électrons-matière, électrons rétrodiffusés et secondaires
- Détection des différents signaux et types d'images associées
- Choix des conditions expérimentales et du type d'appareil en fonction des informations recherchées
Travaux pratiques
- Préparation et observation d'échantillons modèles : métal, céramique, polymère, composite, sous forme massive, brute ou polie, de poudre et en couche mince
- Travaux pratiques sur l'un ou l'autre des appareils choisis en fonction du type d'échantillon et des informations recherchées
- Notions de microanalyse X par EDS
Le programme détaillé est consultable sur votre espace utilisateur.
Objectifs de la formation
- Connaître les principes de la microscopie électronique à balayage en science des matériaux
- Comprendre la formation de l'image en MEB et les paramétrages de base
- Savoir choisir les détecteurs adaptés pour former une image
- Savoir préparer et observer des matériaux simples
- Savoir interpréter les images en fonction du type d'échantillon et des paramètres d'observation retenus
- Savoir compléter l'interprétation des images en utilisant la microanalyse X
Public visé
Chercheurs, ingénieurs et techniciens amenés à utiliser le MEB ou interpréter des images de MEB pour la science des matériaux.
Prérequis
Connaissances de base en science des matériaux (niveau Bac + 2 minimum)
Modalités pédagogiques
Alternance de cours (6,5 h) et de travaux pratiques (9,5 h) en sous-groupes de 3 participants maximum avec 1 intervenant par sous-groupe.
Moyens et supports pédagogiques
Equipement : Tescan VEGA II (W, basse résolution, Low Vacuum) ; JEOL 6700F (HR-FEG, EDS) ; Zeiss GeminiSEM 500 (UHR-FEG, EDS, Low Vac)
Un support papier, des fichiers au format PDF et une clé USB seront mis à disposition du participant.
Modalités d'évaluation et de suivi
Un suivi individualisé par des évaluations formatives est assuré. Une attestation de fin de formation est délivrée à la fin du parcours.
Formateurs
DT
DINTZER Thierry
Responsable scientifique
LC
LEUVREY Cédric
Responsable scientifique
Modalités tarifaires spécifiques
Nos formations sont exonérées de TVA. Elles bénéficient de remises volumes : - 5% pour 3-4 inscrits, - 10% pour 5-6 inscrits, et - 20% à partir de 7 personnes. Une réduction de 20% est appliquée pour les agents salariés du CNRS.
Informations sur l'accessibilité
Notre laboratoire est entièrement accessible aux personnes à mobilité réduite (PMR). Un accès adapté, des espaces de circulation et des sanitaires spécifiques sont à votre disposition pour garantir votre confort et votre autonomie. Pour toute information complémentaire, veuillez nous contacter.
M'inscrire à la formation
- Catégorie : Microscopie et imagerie
- Durée : 17h
-
Prix : 1 224 € Net de taxePrix INTRA : Nous consulter
- Référence : MOD_2025124
-
Satisfaction :
★★★★★★★★★★
- Taux de réussite : - %
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Inscription rapide et flexible
Réservez votre place jusqu'à 10 jours ouvrés avant le début de la formation.
Prochaines Sessions
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18/03/26
9:00
→
20/03/26
12:00
INTER
Présentiel
IPCMS – CL – STRASBOURG - STRASBOURG (67) 9 places restantes
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