- Retour au site web
- Catalogue
- Microscopie et imagerie
- Préparation des échantillons pour la microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux
Préparation des échantillons pour la microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux Présentiel
Dernière mise à jour : 17/08/2026
- Unité de recherche
- Description
- Objectifs de la formation
- Public visé
- Prérequis
- Modalités pédagogiques
- Moyens et supports pédagogiques
- Modalités d'évaluation et de suivi
- Formateurs
- Informations sur l'admission
- Modalités tarifaires spécifiques
- Informations sur l'accessibilité
- Inscription
Description
La formation alternera des cours théoriques et des travaux pratiques afin que les apprenants puissent manipuler et s'exercer sur certains appareils à la préparation d'échantillons. Des observations seront faites à différentes échelles pour vérifier l'état des échantillons aux différentes étapes de préparation.
Un wooclap de fin est prévu afin d'évaluer les connaissances acquises durant la formation.
La formation répartie en cours pédagogiques et en travaux pratiques permettra d'étudier les différentes techniques de préparation des échantillons pour la microscopie électronique à balayage (MEB) ainsi que de pratiquer sur différents outils incontournables du domaine.
COURS :
- L'importance de la préparation des échantillons avant des observations au MEB
- Les artéfacts induits par la préparation des échantillons
- Les différentes étapes de préparation des échantillons
- Les techniques d'enrobage
- La sécurité lors de la préparation des échantillons : EPI, EPC...
- Les différents modes d'observations des échantillons
- Notions de polissage électrolytique
TP :
- Découpe des échantillons à la scie à fil
- Polissages mécanique et vibratoire
- Enrobage
- Observations des échantillons aux différentes étapes de préparation
- Polissage ionique
- Préparations spécifiques et classiques pour les échantillons polymères
- Introduction à la microscopie électronique à balayage environnementale (MEBE)
Une visite de plateforme permettra de présenter les différents microscopes et matériels de préparation et d'échanger sur les éventuels équipements de sécurité à mettre en place pour se protéger lors des manipulations.
Le planning détaillé de la formation est disponible sur votre espace apprenant.
Objectifs de la formation
- Apprendre à préparer des échantillons massifs pour des observations au MEB
- Savoir contrôler les différentes étapes de préparation
- Apprendre à préparer des échantillons polymères pour des observations au MEB
- Acquérir des notions en microscopie à balayage environnementale (MEBE)
Public visé
Prérequis
Modalités pédagogiques
Moyens et supports pédagogiques
- Supports dématérialisés.
- Les participants n'ont pas besoin de ramener d'équipements. La liste des équipements mis à leur disposition pendant la formation est disponible sur leur espace apprenant.
Modalités d'évaluation et de suivi
Formateurs
FELLAH Clémentine
Responsable scientifique
LESAINT Bérangère
Responsable scientifique
TRILLAUD Victor
Responsable scientifique
Informations sur l'admission
Modalités tarifaires spécifiques
Informations sur l'accessibilité
M'inscrire à la formation
- Catégorie : Microscopie et imagerie
- Durée : 21h
-
Prix : 1 350 € Net de taxePrix INTRA : Nous consulter
- Référence : MOD_2025396
-
Satisfaction :
★★★★★★★★★★
- Taux de réussite : - %
- Télécharger le programme
Préinscription rapide et flexible
Session sélectionnée
-
16/11/26
13:30
→
19/11/26
12:00
Matéis – CL - VILLEURBANNE - VILLEURBANNE CEDEX (69) 2 places restantes -
Détails :
16/11/26 : 13:30 → 17:30 17/11/26 : 9:00 → 12:00 13:00 → 17:00 18/11/26 : 9:00 → 12:00 13:00 → 17:00 19/11/26 : 9:00 → 12:00
Prochaines Sessions
-
Aucune session inter-entreprises n'est actuellement disponible pour cette formation.
Contactez-nous pour organiser une session intra-entreprises ou consultez Notre offre de formation.
Dans la même catégorie
- All-optical Control of Brain Functioning with Optogenetics and Multi-Photon Microscopy - ENGLISH Course Présentiel
- Analyse d'images sur QuPath : des bases aux méthodes avancées (Machine et Deep Learning) pour coupes histologiques, et autres larges images 2D Présentiel
- Analyse d’image : automatisation sous ImageJ/FIJI avec appel des méthodes de segmentation utilisant le Machine Learning et le Deep Learning (niveau avancé) Présentiel
- Aspects fondamentaux de la microscopie électronique en transmission Présentiel
- Atelier de microscopie confocale Présentiel
Catalogue de formation propulsé par Dendreo,
logiciel spécialisé pour les organismes de formation
